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제목
Pair-Grouping 스캔 체인 구조를 이용한 스캔 셀 다중 고장 진단 방법 및 이를 이용한 장치
출원인
연세대학교 산학협력단
출원일
2023.02.23
공개일
2024.08.30
게시글 내용
 본 발명의 스캔 체인 진단 장치는 적어도 하나 이상의 스캔 체인을 포함하는 제1 스캔 그룹; 상기 제1 스캔 그룹에 포함된 스캔 체인과 연결되고 적어도 하나 이상의 스캔 체인을 포함하는 제2 스캔 그룹; 및 상기 제1 스캔 그룹 및 상기 제2 스캔 그룹에 포함된 스캔 체인의 고장을 진단하기 위한 프로세서를 포함하고, 상기 프로세서는 상기 제1 스캔 그룹에 포함된 제1 스캔 체인의 데이터를 제1 값으로 리셋하고, 리셋된 상기 제1 스캔 체인의 데이터를 상기 제2 스캔 그룹에 포함된 제2 스캔 체인으로 전달할 수 있다. 

Pair-Grouping 스캔 체인 구조를 이용한 스캔 셀 다중 고장 진단 방법 및 이를 이용한 장치 대표 이미지

첨부
공개전문PDF
  • 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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