- 제목
- 영상의 품질을 정량화하는 방법 및 장치, 그리고 광학 촬영 시스템의 품질을 측정하는 영상 촬영 장치
- 출원인
- 연세대학교 원주산학협력단
- 공고일
- 2024.10.24
- 출원일
- 2023.02.16
- 공개일
- 2024.08.23
- 게시글 내용
-
본 실시예는 광학 촬영 시스템의 품질을 측정하는 방법 및 장치 그리고 광학 촬영 시스템의 품질을 측정하는 영상 촬영 장치에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 오픈 소스 기반 인공지능을 이용해서 무왜곡 영상과 왜곡 영상에서 객체를 검출하는 간단한 방식으로 광학 촬영 시스템의 품질을 정량화하는 방법 및 장치에 관한 것이다.
- 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
- 키워드(검색어)별, 발명자별 특허(기술), 공개특허 한정 검색 가능
- 연구분야별 비공개 특허(기술)은 지식재산권 담당자 별도 문의
- 지식재산권 담당자
- 관련 문의처
보유특허 검색 페이지 및 담당자 정보 안내 특허 출원인 (권리자) 전담부서 연락처 연세대학교 산학협력단 본교 산학협력단 지식재산팀 지식재산팀 양지혜 팀장
(02-2123-5138 / jh.yan@yonsei.ac.kr)연세대학교 원주산학협력단 원주산학협력단 기술경영팀 기술경영팀 오정환 팀장
(033-760-5251 ~ 5252 / WJDGHKSA@yonsei.ac.kr)