개시된 실시예는 테스트 패턴을 생성하고, 생성된 테스트 패턴에 따른 테스트 데이터를 메모리 장치에 저장하는 테스트 패턴 생성기; 및 메모리 장치에 저장된 테스트 데이터에 대해 로우 단위로 테스트를 수행하여 결함 비트 위치를 나타내는 고장 정보 데이터를 ATE로 출력하되, 검출되는 결함 개수가 메모리 장치에 구비된 스페어 칼럼의 개수를 초과하면, 결함 비트의 칼럼 위치에 대한 정보가 제외된 고장 정보 데이터를 출력하는 로우 단위 출력 생성기를 포함하여, 저속의 제한된 채널 수를 갖는 ATE로도 테스트 성능을 향상시켜 테스트에 소요되는 시간과 비용을 저감시킬 수 있는 BOST 장치 및 이의 출력 데이터 저감 방법을 제공한다.