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산학협력단

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제목
균열 이미지의 픽셀 기준 손상 정도 추출방법 및 장치
출원인
연세대학교 산학협력단
출원일
2022.09.08
공개일
2024.03.15
게시글 내용
 본 발명의 실시 예는 균열 검출 장치가 건축물 외관 이미지에서 균열 이미지를 검출하는 단계, 상기 균열 검출 장치가 상기 균열 이미지에서 라벨링된 균열픽셀을 검출하는 단계, 상기 균열 검출 장치가 상기 균열 이미지의 특정 행 또는 특정 열에 존재하는 균열픽셀 중 제1 센터포인트를 결정하는 단계, 상기 균열 검출 장치가 상기 제1 센터포인트와 인접한 제2 센터포인트들을 지나는 제1 직선 생성하는 단계, 상기 균열 검출 장치가 상기 제1 직선에 수직하고 상기 제1 센터포인트를 지나는 제2 직선 생성하는 단계 및 상기 균열 검출 장치가, 상기 균열픽셀 중 상기 제2 직선이 지나는 픽셀의 개수에 기초하여 균열 검출하는 단계를 포함하는, 건축물의 균열 검출 방법을 개시한다. 

균열 이미지의 픽셀 기준 손상 정도 추출방법 및 장치 대표 이미지

첨부
공개전문PDF
  • 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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