- 제목
- 고장 진단 가능한 스캔 장치 및 스캔 체인 고장 진단 방법
- 출원인
- 연세대학교 산학협력단
- 출원일
- 2022.02.11
- 공개일
- 2022.08.24
- 게시글 내용
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본 실시예에 의한 고장 진단 가능한 스캔 장치는: 스캔 플립 플롭과 캐스케이드로 연결된 경로 제어 스캔 플립 플롭들을 포함하는 스캔 체인을 복수개 포함하는 스캔 파티션을 포함하며, 상기 스캔 파티션 내 스캔 플립플롭의 연결 경로는 제어 가능하고, 상기 고장의 위치를 검출하도록 상기 경로 제어 스캔 플립 플롭들의 연결 경로가 제어되어 상기 스캔 파티션 내의 고장 범위를 감축시켜 고장 진단한다.
- 첨부
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- 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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