본 실시예는 두 신경망을 이용하여 복수의 스캔 셀들의 고장을 검출하는 고장 검출 방법으로, 상기 고장 검출 방법은: (a1) 상기 복수의 스캔 셀들에 포함된 각 스캔 셀에 고장 발생시 캡쳐된 고장 로그(fail log)로 제1 신경망을 학습시키는 단계와, (a2) 상기 복수의 스캔 셀들에 포함되고, 상기 미리 정해진 개수의 스캔 셀들에서 고장 발생시 형성된 고장 로그로 제2 신경망을 학습시키는 단계 및 (b1) 학습된 상기 제1 신경망에 고장 로그(fail log)를 입력하여 상기 미리 정해진 개수의 스캔 셀들을 포함하는 고장 후보 그룹을 출력하는 단계와, (b2) 상기 제2 신경망이 상기 고장 후보 그룹을 입력받고, 고장을 검출하는 단계를 포함하며, 상기 (a1) 단계와 상기 (a2) 단계는 상기 (b1) 단계와 상기 (b2) 단계에 앞서 수행된다.