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제목: Ｘ선 품질 측정 장치 및 방법

출원인: 연세대학교 원주산학협력단

출원일: 2011.04.11

공개일: 2012.10.19

게시글 내용

X선 품질 측정 장치 및 방법이 개시된다. 본 발명의 실시예들은 X선 촬영 장치로부터 소정의 이미지를 획득하고, 상기 이미지에 대한 MTF(Modulation Transfer Function) 및 NNPS(Normalized Noise Power Spectrum)를 측정한 후 상기 X선 촬영 장치의 조사선량과 상기 측정된 MTF 및 상기 측정된 NNPS를 기초로 상기 X선 촬영 장치에 대한 DQE를 연산하는 장치 및 방법에 대한 것이다.

Ｘ선 품질 측정 장치 및 방법 대표 이미지

첨부: 공개전문PDF

자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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