- 제목
- 디지털―아날로그 변환기 테스트 장치 및 방법
- 출원인
- 연세대학교 산학협력단
- 출원일
- 2010.12.28
- 공개일
- 2012.07.06
- 게시글 내용
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본 발명은 n비트 디지털-아날로그 변환기 테스트장치에 있어서,(k≥1, 정수)개의 저항으로 이루어진 저항루프, 상기 저항루프에 연결되어 기준전압과 입력신호를 비교하는 비교기, 디지털 신호로 변환하는 디코더를 포함하고 상기 저항루프는 저항들 중 서로 다른 저항값을 갖는 저항을 포함한다. 본 발명에 의해서 아날로그-디지털 변환기의 하드웨어 오버헤드가 감소하게 된다.
- 첨부
- 공개전문PDF
- 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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