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제목
구조물의 변형 측정용 장치 및 이를 이용한 구조물의 변형 측정방법
출원인
연세대학교 산학협력단, (주)기술과가치
출원일
2010.03.10
공개일
2011.09.16
게시글 내용
 본 발명은 구조물의 변형률 측정용 장치 및 이를 이용한 구조물의 변형률 측정방법에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 본 발명의 구조물의 변형률 측정용 장치는 일정한 간격으로 배열된 나노 입자를 함유하는 광결정층을 포함한다. 본 발명에 의하면, 다양한 산업 구조물이 사용하중 등에 의해 변형되는 경우 해당 부분의 구조색 변화 또는 자속 변화를 측정함으로써 보다 간단하고 용이하게 구조물의 정확한 변형여부 및 변형률을 측정할 수 있으며, 이를 통하여 구조물의 과다변형으로 인한 안전사고의 발생도 방지할 수 있다. 

구조물의 변형 측정용 장치 및 이를 이용한 구조물의 변형 측정방법 대표 이미지

첨부
공개전문PDF
  • 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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