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산학협력단

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제목
디지털 아날로그 변환기의 내장 테스트 방법 및 회로
출원인
연세대학교 산학협력단
출원일
2009.10.20
공개일
2011.04.27
게시글 내용
 디지털 아날로그 변환기의 내장 테스트 방법이 제공된다. 디지털 아날로그 변환기의 내장 테스트 방법은 디지털 아날로그 변환기의 출력 신호와, 시작 클럭에서 양의 값을 갖는 램프 신호의 차이에 해당하는 테스트 값을 구하여 오차 범위내에 있는지 검사하는 단계를 포함하되, 상기 테스트 값을 구하는 단계 및 오차 범위내에 있는지 검사하는 단계는 디지털 아날로그 변환기의 내부에서 수행될 수 있어, 고신뢰성, 저가격화 소형화에 최적화된 디지털 아날로그 변환기의 테스트 방법에 제공될 수 있다. 디지털 아날로그 변환기, 램프 신호, 테스트

디지털 아날로그 변환기의 내장 테스트 방법 및 회로 대표 이미지

첨부
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  • 자료출처 : KIPRIS (https://www.kipris.or.kr)
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