본 발명은 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법 및 장치에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 원치 않는 탐지 신호가 발생 되는 것을 막아주고 ADC의 천이가 상승 천이임을 보장하는 천이 검출기를 제안하고, 이를 이용하여 ADC의 정적 파라미터를 계산하여 아날로그-디지털 변환기를 테스트 함으로써, 하드웨어 오버헤드를 감소시키고, 노이즈에 의한 불필요한 천이를 제거하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법 및 장치에 관한 것이다.이를 위해,(a) 램프 신호를 발생시키는 단계;(b) 상기 신호를 아날로그-디지털 변환기에 입력시키는 단계;(c) 상기 변환기의 출력 중 하위 두 비트를 입력받아 천이를 감지하는 단계;(d) 상기 변환기의 출력 중 하위 두 비트 및 상기 감지된 천이를 입력받아 INL을 검출하여 정적 파라미터를 계산하는 단계;(e) 상기 감지된 천이를 입력받아 DNL을 검출하여 정적 파라미터를 계산하는 단계;(f) 상기 계산된 정적 파라미터를 이용하여 변환기의 고장 유무를 판단하는 단계를 포함하여 구성되는 것을 특징으로 하는 아날로그-디지털 변환기의 내장형 자체 테스트 방법을 제공한다.아날로그-디지털 변환기, 비스트, 자체 테스트, 천이 구간, ADC, BIST, Analog-to-Digital Converter, Built-In Self-Test, Transient Zone.