본 발명은 광결정 일층의 투과도를 계산하는 광결정 투과도 분석기(4); 상기 광결정 투과도 분석기(4)로부터 얻어진 투과도를 이용하여 광원의 특정 파장대역의 투과도를 추출하는 투과도 샘플러(6); 상기 투과도 샘플러(6)를 이용하여 추출한 투과도로 광결정의 굴절률을 분석하는 현상적 광결정 특성분석기(8); 상기 현상적 광결정 특성분석기(8)로부터 간헐적으로 얻어진 굴절률로 수치해석법을 이용하여 광결정 나머지 간격의 굴절률을 얻고, 전 파장의 굴절률로 일층의 굴절률을 분석하는 수치적 투과도 해석장치(10); 상기 광결정 투과도 분석기(4), 투과도 샘플러(6), 현상적 광결정 특성분석기(8) 및 수치적 투과도 해석장치(10)를 반복 수행하여 광결정 투과도로부터 얻어진 광결정 일정 층들의 굴절률로 광결정 나머지 층들의 굴절률을 도출하고, 광결정 전체 굴절률을 분석하는 보간 굴절률 연산기(14); 상기 보간 굴절률 연산기(14)를 통하여 얻어진 광결정의 전체 굴절률로 광결정의 전체 투과도를 도출하는 투과도 계산기(16)를 포함하는 광결정 분석 시스템에 관한 것이다.광결정, 투과도, 특성 분석기, RCWA, FDTD, 현상적 광결정 특성분석기